◆何謂Power Cycle Test（PCT）：   

Power Cycle Test（PCT）是用通電的方式使功率模組內部的晶片發熱，發熱源（晶片）的周圍受到各材料間膨脹係數的差異影響而產生故障，是一個可以模擬產品在實際使用時發熱情況的測試。 作為有效運用能源與省能源化為核心的技術，被納入功率元件模組的開發。功率模組的用途為，直流交流電的轉換、電力的供給以及控制，並常用於發電送電電車等輸送系統。   現今，油電車與電動車相關的電動化與馬達控制正在加速的發展，需要許多更多革新的技術。裝設於汽車的引擎內部的功率模組，也需要有高耐熱及散熱良好的性能。除了車載相關之外，功率元件也廣泛應用在如冰箱冷氣等家電上。 功率模組即使在嚴峻的使用環境下，也必須具有非常高的可靠性。因此PCT是作為測試功率模組的性能中非常重要的一項測試。 

◆關於Power Cycle Test（PCT）服務：  

 Power Cycle Test（PCT）的目的為，利用Power Device在運行時產生的熱來檢測內部各個材料間接合處的可靠性以及推斷模組的壽命。模組內部搭載的IGBT、MOSFET、SBD等晶片在啟動及關閉時，所產生的熱會導致內部零件產生不同程度的熱脹冷縮，造成各個材料之間接合處的分離或破壞等故障發生，影響了元件的使用壽命。   敝司的PCT裝置，除了測試製品的使用壽命之外，還能夠利用結構函數的功能，以非破壞的方式推測出發生故障的地方。此外，機台上搭載水冷式降溫板的冷卻機構，能夠在安定的放熱特性下執行測試。   

◆本測試所服務之對象：   

本身有開發與製作功率元件（IGBT、MOSFET、Diode模組），並且想測試對於功率模組的壽命週期與可靠性(對應AEC-Q101、AQG324)，以及模組發生故障時分析發生原因以利改進製程的公司，都非常歡迎詢問！    

◆PCT測試規格 

・最大測試電流：1530A（510A x 3系統）

 ・最大測試電壓：30V

 ・測試通道數：18個（6個 x 3系統）

 ・其他功能：結構函數解析（推測與分析產品故障的原因及位置）